18-09-2009
Produkcja procesorów i półprzewodników
Produkcja procesorów i półprzewodników - od piasku do procesora
Firmy takie jak Intel czy AMD, wprowadzając nowe procesory
chwalą się przy okazji osiągnięciami związanymi z produkcja półprzewodników, na
przykład 32-nanometrowym procesem technologiczny, miedzianą metalizacją,
litografią immersyjną, technologią High-K/Metal Gate czy SOI i rozciąganym
krzemem. Wszystkie te pojęcia związane są bezpośrednio ze sposobem wytwarzania
półprzewodnikowych układów scalonych. Przyjrzyjmy się zatem jak produkuje się
procesory i układy scalone, nie tylko po to, aby zrozumieć te pojęcia, ale
również łatwiej móc ocenić czego można się spodziewać po danym typie chipa.
Układy scalone, w tym procesory, pamięci, układy graficzne, sterowniki,
wzmacniacze, procesory DSP, kontrolery magistrali itp., składają się z mniejszej
lub większej liczby tranzystorów bądź takich elementów półprzewodnikowych jak
np. diody, tyrystory, rezystory, kondensatory, warystory itp. Oczywiście im
bardziej skomplikowany jest taki układ, tym z większej liczby elementów
półprzewodnikowych składa. Dla przykładu pierwszy procesor Intela, Intel 4004
składał się z 2300 tranzystorów (procesor powstał w 1971 roku) i zajmował
powierzchnię 12 mm2. Intel Pentium III z 1999 roku, miał już tych tranzystorów
9,5 miliona, a mieścił się na powierzchni 128 mm2. W najbardziej zaawansowanym
obecnie modelu intelowskiego procesora – ośmiordzeniowym układzie Core i7, tych
tranzystorów jest już 731 mln, a kość zajmuje powierzchnię zaledwie 263mm2.
Układy scalone, tranzystory i bramki logiczne
Tranzystory i inne elementy półprzewodnikowe znajdujące się w układzie scalonym
łączy się, podobnie jak w wypadku zwykłych urządzeń elektronicznych w różnego
rodzaju bloki wykonawcze, np. odpowiedzialne za dostarczanie napięcia, modułu
prostujące, wzmacniacze itp. Same układy scalone dzieli się zaś obecnie pod
względem skali integracji, a więc ilości umieszczonych w nich elementów na:
– małej skali integracji SSI (Small Scale of Integration)
– średniej skali integracji MSI (Medium Scale of Integration)
– dużej skali integracji LSI (Large Scale of Integration)
– wielkiej skali integracji VLSI (Very Large Scale of Integration)
– ultrawielkiej skali integracji ULSI (Ultra Large Scale of Integration)
Oczywiście, procesory należą do tej ostatniej grupy układów. Układy scalone
dzieli się też na układy analogowe, zastępujące tradycyjne fragmenty
realizowanych na tranzystorach, rezystorach, diodach i kondensatorach układów
elektronicznych oraz cyfrowe. Przykładem kości z pierwszej grupy mogą być
komparatory napięcia, konwertery napięcia, wzmacniacze operacyjne, mostki
prostownicze, przedwzmacniacze mikrofonowe itp. Do drugiej grupy zalicza
procesory, układy graficzne, kontrolery, moduły pamięci, programowalne układy
PLD (Programmable Logic Device), układy TTL i układy CMOS. Pierwszy układ
scalony opracował w 1958 roku, późniejszy laureat nagrody Nobla z fizyki Jack
Kilby z firmy Texas Instruments. Mniej więcej w tym samym czasie swój układ
scalony skonstruował także Robert Noyce z Fairchild Semiconductor, jeden z
założycieli firmy Intel.

Pierwszy na świecie układ scalony zaprojektowany przez Jack’a Kilbiego w 1958
roku.
Źródło: Texas Instruments

Cyfrowy układ scalony Texas Instruments SN7400N zawierający w sobie cztery
bramki logiczne NAND.
Źródło: Wikipedia
Wszystkie układy cyfrowe wewnątrz swoje struktury zawierają
mniejszą lub większą liczbę bramek logicznych. Bramka logiczna, to złożony z
tranzystorów układ elektroniczny (mogą być również konstruowane układy logiczne
pneumatyczne, hydrauliczne, mechaniczne, optyczne itp.) realizujący fizycznie
prostą funkcję logiczną, której argumenty (czyli tzw. zmienne logiczne) oraz
sama funkcja mogą przybierać jedną z dwóch wartości – 0 lub 1. Działanie bramek
jest zgodne z algebrą Boole’a. Podstawowymi elementami logicznymi, są układy
elektroniczne realizujące funkcje logiczne sumy (alternatywy), iloczynu
(koniunkcji) i negacji. Są to odpowiednio bramki OR, AND i NOT. Co ważne za
pomocą dwóch takich bramek (np. OR i NOT lub AND i NOT) można zbudować układ,
realizujący dowolną funkcję logiczną. W układach logicznych wykorzystuje się
również dodatkowo bramki NAND (negacja koniunkcji), NOR (negacja sumy
logicznej), XOR (alternatywa wykluczająca), XNOR (negacji alternatywy
wykluczającej) oraz bramki trójstanowe, które w znaczący sposób ułatwiają
konstruowanie dużych logicznych bloków wykonawczych. Dowolny procesor składa się
właśnie z bardzo wielu tego typu bramek logicznych połączonych ze sobą w
logiczne bloki, które „spięte” ze sobą w jeszcze większe moduły realizują np.
takie operacje w procesorze jak przewidywania skoków programu, funkcje
arytmetyczne w ALU (Arithmetic and Logical Unit), operacje FPU, funkcje SSE itp.

Schemat elektroniczny budowy bramki NAND składającej się z dwóch tranzystorów.
Widoczne na schemacie rezystory, w produkowanych obecnie układach cyfrowych
zastępowane są odpowiednio połączonymi tranzystorami.
Źródło: cpuville.com

Schemat realizacji na bramkach logicznych prostej jednostki ALU.
Źródło: cpuville.com
W tym miejscu trzeba jeszcze powiedzieć o jeszcze jednej
klasyfikacji układów scalonych ze względu na sposób ich wykonania. Ten podział
jest bardzo istotny na sposób produkcji układów scalonych, w tym procesorów.
Układy scalone ze względu na powyższe kryterium dzieli się zatem na:
– monolityczne, w których wszystkie elementy, elementy czynne wykonane są w
monokrystalicznej strukturze półprzewodnika – do tej grupy należą procesory i
większość układów cyfrowych,
– hybrydowe, w których na warstwę izolatora nanoszone są warstwy przewodnika,
półprzewodnika oraz materiału rezystywnego, które następnie są wytrawiane,
tworząc tranzystory, kondensatory, rezystory, cewki oraz układ połączeń
elektrycznych. W ten sposób wykonywana jest większość układów analogowych.
Z naszego punktu widzenia ważne jest to, że w układach monolitycznych
praktycznie wszystkie elementy wykonuje się, jak już wspomniałem, jako układy
złożone z tranzystorów, które odpowiednio trzeba tylko ze sobą połączyć w
procesie metalizacji. W ten sposób łączy się ze sobą odpowiednie końcówki
tranzystorów. Tranzystory stosowane w procesorach wykonuje się w technologii
CMOS.
Tranzystory MOSFET i technologia CMOS
Zanim przejdziemy do omówienia produkcji półprzewodników, chciałem kilka słów
poświęcić wspomnianej przed chwilą technologii CMOS (Complementary Metal Oxide
Silicon). Wszystkie znajdujące się na krzemowej płytce tranzystory są tak
zwanymi tranzystorami planarnymi, czyli takimi, które wytworzone zostały na
płaskiej powierzchni krzemu. W planarnej technologii półprzewodnikowej stosuje
się tranzystory polowe typu MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Electric
Transistor), które produkuje się właśnie przy użyciu technologii CMOS.
Podstawowym elementem w technologii CMOS jest para komplementarnych
(dopełniających się) cienkowarstwowych tranzystorów polowych MOS o
przeciwstawnych typach kanałów przewodzących (typu n i typu p, o których za
chwilę), łączących dren i źródło. Tranzystory takie charakteryzują się bardzo
małym poborem mocy, odpornością na zakłócenia, prostą konstrukcja umożliwiająca
stosunkowo łatwą ich miniaturyzację (nawet do wymiaru kilkunastu nanometrów) i
bardzo dużą prędkością przełączania czyli działania. Nic więc dziwnego, że
tranzystory MOSFET wykonane w technologii CMOS znalazły szerokie zastosowanie w
produkcji wszelkiego rodzaju układów scalonych, w tym procesorów.

Komplementarna para tranzystorów planarnych MOSFET.
Źródło: www.sp.phy.cam.ac.uk
Wracając do technologii CMOS, to dwa półprzewodnikowe obszary
o przewodnictwie n (elektronowym, ujemnym) lub p (dziurowym, dodatnim) nazywane
źródłem (ang. source) lub drenem (ang. drain) wytworzone są przez domieszkowanie
ich obszaru atomami innego pierwiastka. Stosuje się tu kilka pierwiastków, m.in.
antymon, arsen i fosfor, wówczas powstaje półprzewodnik typu n, lub bor, gal,
ind i glin w celu otrzymania półprzewodnika typu p. Obszar między źródłem i
drenem tworzy kanał tranzystora, w którym od źródła do drenu przepływają nośniki
ładunku elektrycznego – elektrony, lub dziury stanowiące ładunek dodatni.
Przepływem elektronów w kanale tranzystora steruje bramka (ang. gate). Bramka
znajduje się bezpośrednio nad kanałem tranzystora i oddzielona jest od niego
cienką warstwą izolacyjną – najczęściej dwutlenkiem krzemu.

Porównanie rzeczywistego, 90-nanometrowego tranzystora MOSFET wykonanego w
technologii CMOS z jego „podręcznikowym” schematem.
Źródło: Intel/CHIP
Zmiany natężenia pola elektrycznego wytworzonego między
bramką, a podłożem pozwalają na sterowanie przepływem nośników, zamykając bądź
otwierając kanał tranzystora, czyli przełączając tranzystor odpowiednio w stan,
w którym przepływ ładunków nie jest możliwy lub w stan przewodzenia. W
nowoczesnych układach półprzewodnikowych pod kanałem wytwarza się dodatkową
warstwę izolacyjną pozwalająca na precyzyjniejsze sterowanie przepływem
ładunków. Technologia ta nosi nazwę SOI (Silicon On Insulator).
Tranzystory na waflach
Tranzystory o wielkości kilkudziesięciu maksymalnie kilkuset nanometrów
produkuje się na krzemowych waflach. Chodzi o to, że wytworzenie całej krzemowej
struktury procesora setek milionów tranzystorów i połączeń tak, aby działały one
bez najmniejszych zastrzeżeń wymaga wielu ściśle powiązanych ze sobą
długotrwałych procesów. Dla przykładu procesory Intela produkowane w
45-nanometrowym procesie technologicznym wymagają zwykle od 300 do 500
przebiegów technologicznych. Cały proces trwa zaś od 12 do 15 tygodni! Po tym
czasie z fabryki może wyjechać dopiero gotowy procesor.
Nic dziwnego, że producenci chcąc w jednym cyklu technologicznym wytworzyć
możliwie jak największą liczbę układów scalonych. Dlatego, zarówno procesorów,
jak i układów scalonych nie produkuje się pojedynczo, lecz w większych partiach.
Cała taka partia jest wytwarzana na specjalnie przygotowanym krzemowym waflu na
którym mieści się kilkaset układów scalonych. Krzemowy wafel to po prostu
okrągła oszlifowana, monokrystaliczna krzemowa płytka o grubości od 0,5 do 1 mm
i średnicy 200–300 mm. Większość fabryk korzysta obecnie z 300 mm wafli,
określanych też mianem wafli 12-calowych, które mają ustandaryzowaną grubość
wynoszącą 775 µm. Na takim jednym waflu mieści się przeciętnie ok. 300–450
procesorów. Oczywiście, im wafel ma większą średnicę tym więcej można na nim
jednocześnie wytworzyć procesorów, ale wiąże się to z większymi trudnościami
technicznymi, zarówno przy przygotowaniu wafla, jak i przy późniejszej produkcji
układów scalonych.

Wafel o średnicy 300 mm z umieszczonymi na nim układami scalonymi.
Źródło: Intel
Pierwsze, wspomniane przeze mnie procesory Intela –
składające się z 2300 tranzystorów układy Intel 4004 z 1971 roku –
przygotowywane były np. na waflach o średnicy 50 mm w procesie technologicznym
10 mikrometrów. Jeden procesor zajmował 12 mm2 powierzchni i jak łatwo policzyć,
na jednym waflu mieściło się 163 procesorów. W przyszłym roku fabryki
półprzewodników mają zacząć produkcję układów na waflach 450 mm (18 cali) o
grubość 925 µm, co pozwoli na ponad dwukrotne zwiększenie liczby jednocześnie
produkowanych procesorów – nie uwzględniając zmiany procesu technologicznego i
liczby tranzystorów.
Produkcja wafli
Wafle wykorzystywane do produkcji układów scalonych wytwarzane z bardzo
czystego, 99,9999%, krystalicznego krzemu klasy Electronic Grade Silicon. Co
ciekawe, w krzemie takim może znaleźć się zaledwie jeden atom zanieczyszczeń na
każdy miliard atomów krzemu. Czysty, stopiony krzem wykorzystywany jest
następnie do hodowania ogromnych monokryształów, czyli materiału będącego w
całości jednym kryształem krzemu o ściśle ustalonej strukturze
krystalograficznej i niewielkiej liczbie defektów. Większość monokryształów
wytwarza się metodami przemysłowymi poprzez krystalizację stopionej cieczy,
jedną z trzech metod:
– procesu Bridgmana
– metodą Czochralskiego
– topienie strefowe

Przemysłowe metody otrzymywania monokryształów.
Najczęściej monokryształy krzemu otrzymuje się w procesie
powolnego wyciągania kryształu-zarodka. Metoda ta, stosowana pierwotnie w
metalurgii opracowana została został przez polskiego chemika Jana
Czochralskiego w 1916 roku i nosi obecnie nazwę metody Czochralskiego.


Zasada otrzymywania monokryształów metodą Czochralskiego.
Źródło: Wikipedia
Metodą Czochralskiego możemy otrzymać monokryształy krzemu o
długości dochodzącej do 2 m i ważące nawet 225 kg. Taki blok monokryształu o
kształcie walca o założonej średnicy (np. 300 mm) określany jest angielskim
słowem ingot (wlewek). Im większa średnica ingotu, tym z większymi problemami
technologicznymi mamy do czynienia przy jego otrzymywaniu. Wiążą się one z coraz
dokładniejszą kontrola temperatury i sterowaniem szybkością narostu materiału
monokrystalicznego wzdłuż określonej osi krystalograficznej – w produkcji
procesorów wymagany jest wzrost wzdłuż płaszczyzny o orientacji
krystalograficznej oznaczonej symbolem (100), gdyż łatwiej poddaje się procesom
trawienia.


Ingot monokryształu krzemu.
Źródło:
www.silfex.com/cnfolio.com
Otrzymany metodą Czochralskiego walec krzemowy jest następnie
cięty na plasterki za pomocą diamentowego ostrza, a uzyskane płytki są dodatkowo
szlifowane (ang. lapping), a następnie polerowane (ang. polishing). Szlifowanie
ma na celu uzyskanie precyzyjnej grubości wafla oraz równoległych jego
powierzchni. Dodatkowo redukuje ono mechaniczne defekty powstałe po cięciu piłą.
Polerowanie jest procesem chemiczno mechanicznym. Wykorzystuje się w nim SiO2,
wodę destylowana i wodorotlenek sodu. Dzięki polerowaniu otrzymujemy lśniącą
lustrzaną powierzchnię, na której będzie już można produkować procesory. Przed
ostatecznym trafieniem do fabryki półprzewodników wafle mają jeszcze wyrównywane
krawędzie (jest to ważne ze względu na procesy transportu w fabryce
półprzewodników) sprawdza się czy nie mają defektów (kontroluje się ich grubość,
właściwości elektryczne i płaskość) a następnie są próżniowo pakowane do
specjalnych pojemników, w których trafią do fabryki.



Cięcie monokryształów krzemu.
Źródło: MEMC Electronic Materials, Inc.


Szlifowanie krzemowych wafli.

Polerowanie wafli.

Wypolerowane, gotowe wafle 300 mm w kasecie transportowej.
Źródło: MEMC Electronic Materials, Inc.
Czas na fabrykę półprzewodników
Oczywiście, firmy takie jak Intel czy AMD nie produkują same wafli
półprzewodnikowych. Skupiają się one przede wszystkim na projektowaniu i
produkcji procesorów, a wykorzystują wafle kupione od wyspecjalizowanych w ich
produkcji firm trzecich. Jedną z takich jak np. niemiecka firma Wacker Siltronic,
zaopatrująca drezdeńską fabrykę AMD, czy jedna z największych na świecie firm
produkujących krzemowe wafle, amerykańska MEMC Electronic Materials, Inc., w
której zaopatruje się Intel i TSMC.
Na rynku jest też wiele firm świadczących usługi produkcyjne polegające na
wytwarzaniu układów scalonych na podstawie dostarczonych projektów układów
scalonych. Takie usługi produkcyjne świadczy m.in. STMicroelectronics, Motorola,
IBM czy najbardziej znana, wspomniana przed chwilą, tego typu firma – TSMC
(Taiwan Semiconductor Manufacturing Company). Ta tajwańska półprzewodnikowa
wytwórnia firma znana jest przede wszystkim z produkcji układów graficznych dla
firm ATI i Nvidia, oraz chipsetów dla firm SiS i VIA. Takie fabryki jak TSMC
odpowiadają za cały proces produkcji począwszy od przygotowania masek, poprzez
wszystkie testy przed i poprodukcyjne, a na przygotowaniu gotowego wyrobu do
wysyłki do klientów kończąc.
W tym miejscu trzeba też dodać, że pod koniec 2008 roku AMD zrezygnowało z
posiadania własnej fabryki produkującej procesory. Znajdujące się tuż pod
Dreznem należące do niej fabryki półprzewodników Fab 30 i Fab 36 zostały
wydzielone z koncernu, a udziały w nich sprzedane firmie ATIC (Advanced
Technology Investment Company) z Abu Dhabi. Fabryki te funkcjonują one obecnie
pod szyldem GlobalFoundries (www.globalfoundries.com),
która to firma jest spółką joint venture AMD i ATIC, produkującą głównie na
potrzeby firmy AMD.
We wnętrzu fabryki półprzewodników
Sercem każdej fabryki półprzewodników jest "cleanroom" czyli pokój bezpyłowy.
Cleanroom jest rodzajem wydzielonego i odizolowanego od reszty fabryki
pomieszczenia (lub grupy pomieszczeń, tak jak ma to miejsce przy produkcji
półprzewodników, których łączna powierzchnia może być liczona w setkach lub
tysiącach metrów kwadratowych). W pomieszczeniach bezpyłowych są ściśle
kontrolowane parametry panującego w nim środowiska, a w szczególności
ograniczone do minimum występowanie zanieczyszczeń typu pył, kurz, bakterie, czy
opary chemiczne, które mogą wpływać na proces produkcji. Nie ma w tym nic
dziwnego, zauważmy, że w stosunku do wielkości tranzystorów lub ścieżek na
powierzchni wafla, nawet najdrobniejszy pył jest ogromny. Jego wymiar można
porównać nawet do sporej wielkości góry. Jeśli taki pyłek osadzi się na
krzemowej strukturze procesora, to natychmiast nieodwracalnie uszkodzi delikatne
obwody takiego układu scalonego. Niestety, a wystarczy nawet tylko jeden źle
działający tranzystor i procesor będzie nadawał się do wyrzucenia.

Jedno z pomieszczeń w cleanroomie w irlandzkiej fabryce Intela – Fab 24 w Lexlip.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
Właśnie dlatego po to, aby jak najwięcej produkowanych na
waflu krzemowym układów było sprawnych, podczas ich wytwarzania musi być
zachowana możliwie jak największa czystość powietrza na linii produkcyjnej. Aby
zachować odpowiednią czystość, powietrze w cleanroomie poddawane jest procesowi
ciągłej filtracji i recyrkulacji. Powietrze do pomieszczeń produkcyjnych
pompowane jest przez otwory w suficie, a wypływa przez płytki w podłodze. Co
ważne, w pokoju bezpyłowym panuje też zawsze lekkie nadciśnienie. Ma ono z
zadanie utrudnienie dostawania się pyłów z zewnątrz miedzy innymi podczas
przechodzenia pracowników przez specjalne potrójne śluzy. Co więcej, w razie
wystąpienia nawet niewielkich nieszczelności w ścianach i przegrodach
otaczających pomieszczenia bezpyłowe powietrze będzie wówczas wypływać na
zewnątrz, a nie będzie wciągane wraz z zanieczyszczeniami do środka.

Kratki w podłodze w pomieszczeniu bezpyłowym, pozwalające swobodnie opadać
pyłkom nie zanieczyszczając cleanroomu. Tymi kratkami wypływa też powietrze,
które poddawane jest procesom filtracji i recyrkulacji.
Źródło: Intel
Co więcej, zatrudnione w cleanroomie osoby przed wejściem do
bezpyłowych pomieszczeń muszą obowiązkowo przebrać się w specjalne kombinezony
ochronne, maski na twarz, okulary i obuwie. Dzięki temu do bezpyłowych
pomieszczeń nie przedostają się żadne zanieczyszczenia, a na waflach nie
osadzają również się włosy, drobiny czy bakterie pochodzące ze skóry.


Przebieralnia i pracownicy w specjalnych bezpyłowy kombinezonach ochronnych w
fabryce Intela Fab 24 w Lexlip.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
Ciekawostką jest fakt, że wszystkie urządzenia używane
wewnątrz cleanroomu muszą być specjalnie zaprojektowane tak, aby nie generowały,
co oczywiste, dodatkowych zanieczyszczeń. Zabronione jest też używanie w nim
takich materiałów jak papier, ołówki, tkaniny naturalne, itp. jest zabronione z
uwagi na ich łamliwość i przyczynianie się do powstawania kurzu. Nie trzeba
dodawać, że do cleanroomów nie wprowadza się praktycznie żadnych gości z
zewnątrz.
W zależności od wymaganej czystości atmosfery, pomieszczenia bezpyłowe dzielone
są na klasy, w których definiuje się liczbę i rozmiar dopuszczalnych
występujących w nich zanieczyszczeń znajdujących się w metrze sześciennym (lub
wg norm amerykańskich, w stopie sześciennej) powietrza. Pomieszczenia do
produkcji półprzewodników zaliczają się do najwyższych klas czystości (klasy
pierwszej wg normy US FED STD 209E oraz klasy ISO 1 i ISO 2 wg norma ISO
14644-1), gdzie cząsteczek (zanieczyszczeń) o wielkości 0,5 µm nie może być
więcej niż jedna w stopie sześciennej lub cztery w m3. Jest to powietrze ponad
tysiąc razy czystsze niż w szpitalnej sali operacyjnej.
Tabela 1: Norma US FED STD 209E
|
|
cząstki/stopa
sześcienna
|
|
Klasa
|
0,1 µm
|
0,2 µm
|
0,3 µm
|
0,5 µm
|
1 µm
|
5 µm
|
|
1
|
35
|
7
|
3
|
1
|
|
|
|
10
|
350
|
75
|
30
|
10
|
1
|
|
|
100
|
3 500
|
750
|
300
|
100
|
10
|
1
|
|
1 000
|
|
|
|
1 000
|
100
|
10
|
|
10 000
|
|
|
|
10 000
|
1 000
|
100
|
|
100 000
|
|
|
|
100 000
|
10 000
|
1 000
|
Źródło: Wikipedia
Tabela2: Norma ISO 14644-1
|
|
cząstki/metr
sześcienny
|
|
Klasa
|
0,1 µm
|
0,2 µm
|
0,3 µm
|
0,5 µm
|
1 µm
|
5 µm
|
|
ISO 1
|
10
|
2
|
|
|
|
|
|
ISO 2
|
100
|
24
|
10
|
4
|
|
|
|
ISO 3
|
1 000
|
237
|
102
|
35
|
8
|
|
|
ISO 4
|
10 000
|
2 370
|
1 020
|
352
|
83
|
|
|
ISO 5
|
100 000
|
23 700
|
10 200
|
3 520
|
832
|
29
|
|
ISO 6
|
1 000 000
|
237 000
|
102 000
|
35 200
|
8 320
|
293
|
|
ISO 7
|
|
|
|
352 000
|
83 200
|
2 930
|
|
ISO 8
|
|
|
|
3 520 000
|
832 000
|
29 300
|
|
ISO 9
|
|
|
|
35 200 000
|
8 320 000
|
293 000
|
Źródło: Wikipedia
Tranzystory na krzemie
Przejdźmy teraz do produkcji tranzystorów na powierzchni krzemu. Trzy elementy
składowe tranzystora, czyli dren, źródło i łączący je kanał tranzystora
wytwarzane są bezpośrednio w krzemowym podłożu. Aby je wytworzyć, jak już
wspomniałem wcześniej przy okazji omawiania technologii CMOS, do
monokrystalicznego, czystego krzemu dodaje się atomy innych pierwiastków, które
dyfundują (wnikają) do jego wnętrza. Technologiczny proces wytwarzania
domieszkowanych warstw na powierzchni półprzewodnika nazywa się epitaksją (ang.
epitaxy). W różnych fabrykach stosuje się różne odmiany tej technologii.
Najczęściej wykorzystywana jest epitaksja z fazy gazowej lub z fazy ciekłej,
przy czym ta pierwsza stosowana jest znacznie częściej i spotkać się z nią
możemy zarówno w fabrykach Intela, AMD, jak i TSMC.

Maszyny do epitaksji z fazy gazowej w drezdeńskiej fabryce AMD Fab 30.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
W epitaksji z fazy gazowej atomy mające utworzyć elementy
tranzystora planarnego doprowadzane są do miejsca gdzie mają wdyfundować w krzem
w otoczeniu obojętnego gazu takiego jak np. argon lub azot. Osiadające na
powierzchni krzemu i wdyfundowujące w niego pierwiastki muszą mieć postać
gazową, dlatego wykorzystywane w produkcji, a występujące w postaci stałej
pierwiastki podgrzewa się pod zmniejszonym ciśnieniem, tak aby odparowały. W
wypadku epitaksji z fazy ciekłej krzemowy wafel zanurzany jest w specjalnym
roztworze zawierającym wdyfundowujące w strukturę krzemu atomy.

Stanowiska do epitaksji z fazy ciekłej w Intel Fab 24.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski

i w AMD Fab 30.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
Przy produkcji układów scalonych o wymiarze technologicznym
55, 45, 32 nm i mniejszych, stosuje się również wysokoenergetyczną implantację
jonów. W metodzie tej odsłonięta powierzchnia krzemu bombardowana jest
strumieniem jonów o dużej energii kinetycznej. Jony metali z III lub V grupy
układu okresowego są przyspieszane do dużych prędkości i uderzając w
powierzchnię krzemu wnikają w jego głąb. Głębokość wnikania zależy od energii
rozpędzonych, uderzających w powierzchnie krzemu jonów, a także od kierunku
padania wiązki jonów na powierzchnię krzemu.. Niestety, jony uderzając w
półprzewodnik niszczą jego strukturę krystalograficzną, dlatego niezbędny jest
później proces wygrzewania poimplantacyjnego. Ma on za zadanie odbudować
krystalograficzną strukturę krzemu, jednocześnie wbudowując w siatkę kryształu
domieszkowane jony. Technika ta pozwala przede wszystkim na precyzyjne tworzenie
płytkich, wysoko domieszkowanych obszarów i uzupełnia technologie epitaksji.

Zasada działania technologii wysokoenergetycznej implantacji jonów.
Naświetlanie i zmywanie
Jak można się domyślić, każdy proces domieszkowania musi być prowadzony tylko w
określonych miejscach, w tych, w których mają powstać w danej chwili określone
elementy tranzystora. Przed rozpoczęciem epitaksji należy zatem osłonić
wszystkie pozostałe miejsca krzemowej płytki. Okazuje się, że znacznie łatwiej
jest osłonić cały wafel, a następnie wyciąć w nim szczeliny wszędzie tam, gdzie
będzie prowadzone domieszkowanie. Do osłony wafla stosuje się wrażliwe na
światło substancje osłonowe nazywane fotorezystami (ang. photoresist), a
rozmiękcza się je korzystając z technologii fotolitograficznych. Rozmiękczony
fotorezyst jest następnie wypłukiwany chemicznie – o czym za chwilę.
Dodatkowo, przed rozpoczęciem produkcji na powierzchni każdego krzemowego wafla
tworzy się osłonową warstwę dwutlenku krzemu SiO2. Proces ten nazywany też
termiczną pasywacją krzemu i przeprowadzany jest w obecności dużej zawartości
tlenu specjalnych komorach przypominających do złudzenia solarium. Warstwa SiO2
ma na celu chronić gotowy układ scalony i jednocześnie jest pomocniczą warstwą
osłonową w procesie epitaksji. Znajdująca się na powierzchni krzemu warstwa SiO2
chroni ponadto układ scalony przed dostępem zanieczyszczeń z powietrza i w
znaczący sposób spowalnia niekorzystne, degradujące strukturę półprzewodnikową,
tzw. procesy migracji wtórnej atomów domieszek. Innymi słowy nie pozwala
„rozejść się” poza wyznaczone obszary drenów, źródeł i kanałów tranzystora.
Odsłonięcie pokrytej dwutlenkiem krzemu, przeznaczonej do obróbki powierzchni
krzemowego wafla jest proste. SiO2 można bowiem wytrawić go kwasem
fluorowodorowym (HF). Podczas tej operacji trawiona jest cała powierzchnia wafla
z wyjątkiem tych miejsc, w których celowo umieściliśmy, lub raczej uściślając,
pozostał fotorezyst odporny na działanie kwasu fluorowodorowego.

Specjalne lampy kwarcowe w obecności doprowadzanego do komory tlenu podgrzewają
wafel do wysokiej temperatury. Proces ten nosi nazwę termicznej pasywacji i w
nim wytwarzana jest na powierzchni krzemu osłonowa warstwa dwutlenku krzemu o
kontrolowanej grubości.
Źródło: ZMD AG
Fotorezyst nanoszony jest zawsze na cała powierzchnię
krzemowego wafla, przy wykorzystaniu metody spin-coatingu. Metoda spin-coatingu
polega na tym, że dzięki ruchowi obrotowemu wkroplona na środek wafla warstwa
substancji chemicznej (tu: fotorezystu) rozpłynie się po nim w taki sposób, że
utworzy cienką, równomierną warstwę (błonę) nanoszonego materiału. Metodę tę
stosuje się np. do produkcji klasycznych, analogowych błon fotograficznych lub
przy rozprowadzaniu barwnika podczas wytwarzania płyt CD-R/DVD±R.

Nanoszenie foterezystu metodą spin-coatingu.
Źródło: MSIB AGH

Poszczególne kroki (w uproszczeniu) produkcji tranzystora planarnego.
Źródło: Intel
Fotorezyst wystawiony na działanie światła (w wypadku
produkcji półprzewodnikowej, fotorezysty reagują przede wszystkim na ultrafiolet
(UV) i promieniowanie rentgenowskie – o czym za chwilę) zmienia swoje
właściwości chemiczne – w zależności od jego rodzaju fotorezyst utwardza się
lub rozmięka. Dzięki temu np. po naświetleniu fotorezystu w ściśle określonych
miejscach na które padło światło możemy, stosując odpowiedni rozpuszczalnik, go
wypłukać. W ten sposób odsłonięty zostaje, przeznaczony do epitaksji, określony
fragment krzemu.

Specjalne pojemniki stosowane w fabryce AMD Fab 30 do wytrawiania i wypłukiwania
rozmiękczonego w procesie fotolitografii fotorezystu z pokrytych nim wafli
krzemowych.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
Po wykonaniu głównej operacji technologicznej, np.
domieszkowania, innym rozpuszczalnikiem zmywana jest pozostała część fotorezystu.
Jeżeli zachodzi taka potrzeba wynikająca z przebiegu procesu produkcji wafel
krzemowy jest ponownie pasywowany termicznie (np. podczas procesu izolacji
bramek tranzystorów). Częściej jednak od razu płytka krzemowa zostaje
przygotowana do kolejnego zabiegu. Wówczas ponownie nakładana jest warstwa
fotorezystu, w której wyrysowany zostanie kolejny wzór itd.
Z fotorezystem związany jest też dziwny, żółto-pomarańczowy kolor światła
stosowany w części pomieszczeń cleanroomu, który można zauważyć na wielu
zdjęciach. Po prostu na tę długość fali nie są czułe wykorzystywane w produkcji
półprzewodników fotorezysty i dzięki temu, można je bezpiecznie transportować,
czy umieszczać w odpowiednich urządzeniach.
Fotolitografia – podstawowy, a jednak pomocniczy proces technologiczny
Do rozrysowania na powierzchni fotorezystu „mapy” rozmieszczenia otworów i
ścieżek, które zamienia się w kolejnych etapach produkcji w tranzystory tworzące
np. procesor, wykorzystuje się technikę nazywaną litografia, a w zasadzie
fotolitografią. Jak już wspomniałem, jest to jeden z najważniejszych,
aczkolwiek, jakby nie patrzeć, pomocniczych, procesów technologicznych podczas
produkcji układów scalonych. Technologie fotolitograficzne umożliwiają, „zdjąć”
naświetloną część fotorezystu tylko w ściśle określonych, z nanometrową
dokładnością, miejscach odsłaniając fragmenty krzemu do np. epitaksji.
W tradycyjnej fotolitografii, podczas naświetlania krzemowego, pokrytego
fotorezystem wafla, promień światła, o kilkumilimetrowej średnicy, np. emitowany
z lasera przechodzi przez specjalna przesłonę, czyli tzw. maskę. W masce tej
wycięty jest wzór odpowiadający rozmieszczeniu wykonywanych w danym kroku
ścieżek i elementów tranzystora w wytwarzanym układzie scalonym. Następnie
wiązka światła jest ogniskowana na wybranym obszarze powierzchni krzemowego
wafla, w praktyce jest to obszar powstającego procesora, gdzie tak jak stempel
odbija wzór potrzebnych na danym etapie ścieżek i punktów.



Schematy obrazujące zasada działania litografii.
Źródło: Infrastructure/TNLC Semicondutor
Przy procesach technologicznych poniżej 130 nm nie korzysta
się z klasycznych masek transmisyjnych, ale z masek odbiciowych. Związane jest
to z tym, że szerokość ścieżek odwzorowywanych na fotorezyście jest znacznie
mniejsza niż długość fali światła stosowanego w procesie fotolitografii. Po
odbiciu wiązki od specjalnie przygotowanej maski, a w zasadzie zespołu kilku
masek odbiciowych, światło nie tylko jest pochłaniane w miejscu wyrysowanych
wzorów, ale w pewnych obszarach w odbitej jego części przesuwana jest również
faza fali światła. Dzięki temu dodatkowe fragmenty wiązki zostają wygaszone i na
powierzchni krzemu odwzorowywany jest taki wzór jaki chcieli otrzymać
inżynierowie projektujący układ scalony. Maski odbiciowe przesuwające dodatkowo
fazę światła nazywa się maskami z przesunięciem fazowym (ang. phase-shift masks).

Maski transmisyjne.
Źródło: MSIB AGH

Transmisyjna maska procesora Intel 8088 z 1979 roku wykonana na szkle.
Wykorzystywany rozmiar technologiczny to 3 µm.
Źródło: Intel

Przesuwająca fazę maska odbiciowa PSM (Phase-Shift Masks).
Źródło: Toppan Photomasks, Inc.
Skanery litograficzne i steppery
Wykorzystywaną w procesie fotolitografi maszyną jest tzw. skaner litograficzny.
Taki skaner składa się z bloku lasera, soczewek redukcyjnych oraz pozycjonera
nazywanego po angielsku stepperem. Zadaniem steppera, jak można się domyślić,
jest odpowiednie pozycjonowanie maski względem promienia światła laserowego i
wafla. Chodzi o to aby trafić w dokładne określone (z dokładnością dochodzącą do
pojedynczych nanometrów) miejsce krzemowego wafla. Przecież o to chodzi, aby
tranzystor został wytworzony dokładnie tam gdzie ma on być. Z kolei zespół
soczewek redukcyjnych ma za zadanie zmniejszyć pięcio- lub dziesięciokrotnie
obraz otrzymany po odbiciu wiązki lasera od maski. Cały proces wykonywania
ścieżek jest bardzo, ale to bardzo precyzyjny. Dobrym porównaniem może być
przyrównanie go do pisania patykiem na piasku z wysokości... okołoziemskiej
orbity – nic dodać, nic ująć.

Steper fotolitograficzny wtaz z próżniowym modułem lasera.

Schemat działania skanera fotolitograficznego.
Źródło: EUVA Japan

Najczęściej spotykany w fabrykach półprzewodników stepper Nikon NSR-S205C.
Źródło: Nikon
Przy produkcji półprzewodników o wymiarze technologicznym
poniżej 65 nm, a więc 45 i 32 nm niezbędnym do prawidłowego odwzorowania wzoru
maski staje się wykorzystanie techniki fotolitografii immersyjnej (ang.
immersion photolitography). W tej odmianie litografii, aby zwiększyć
rozdzielczość układu optycznego wykorzystuje się specjalną ciecz immersyjną o
odpowiednio dobranym współczynniku załamania światła. Ciecz ta obmywa obiektyw
aparatury litograficznej i naświetlany w trakcie tego procesu krzemowy wafel.
Można powiedzieć, że naświetlanie odbywa się „w wodzie”. Dzięki temu uzyskuje
się nie tylko większą rozdzielczość liniową układu optycznego (w wypadku użycia
fali światła 193 nm, współczynnik ten wynosi 1,44), co w efekcie pozwala
wytwarzać znacznie mniejsze tranzystory. Przy okazji zmniejsza się liczba uszkodzonych układów, czyli zwiększa się
tzw. współczynnik uzysku układów scalonych, a więc i redukuje koszty ich
produkcji.

Fotolitografia immersyjna.
Źródło: AMD

Immersyjny skaner litograficzny Nikon NSR-S610C.
Źródło: Nikon
Długość fali światła i rozmiar technologiczny
Obecnie wykorzystywane w procesach fotolitograficznych skanery używają laserów o
długości fali światła 248, 193 lub 157 nm. Z długością fali światła ściśle
związany jest tzw. wymiar procesu technologicznego czyli, powiedzmy 130, 90, 65,
45 bądź 32 nm. Ów wymiar technologiczny to po prostu długość boku kwadratu, w
którym mieszczą się wszystkie elementy składowe tranzystora planarnego. Chodzi
tu o źródło, bramkę i dren, łącznie ze ścieżkami, wyprowadzeniami elektrycznymi
i izolacją bramki. Przyjmuje się, że aby wytworzyć detale tranzystora z
wystarczającą precyzją, średnica wiązki światła musi odpowiadać wymiarowi
technologicznemu.
W wypadku wykorzystania lasera o długości fali światła 193 nm i zastosowania
litografii immersyjnej da się zejść do wymiaru technologicznego wynoszącego 32
nm. Inżynierowie Intela opracowali specjalną ciecz immersyjną, która pozwala na
produkcje procesorów przy wykorzystaniu wspomnianej długości fali 193 nm aż do
wymiaru 22 nm. Osiągnięcie niższych 16 nm wielkości procesu technologicznego
wymaga już wykorzystania lasera 157 nm. Teoretycznie da się tu zejść do rozmiaru
11 nm. Dla porównania, w wypadku litografii suchej, laser 157 nm pozwoliłby na
wytworzenie jedynie procesorów o szerokości ścieżek ok. 70 nm.

Roadmapa rozmiarów technologicznych i szerokości bramek tranzystora wg Intela.
Źródło: Intel
Bramki sterujące tranzystora
Kiedy wszystkie elementy tranzystorów planarnych, tzn. dreny, źródła i ich
kanały na powierzchni krzemu są już gotowe, wówczas przystąpić można do
wytworzenia ostatniego elementu znajdującego się w każdym tranzystorze MOSFET, a
mianowicie bramek sterujących przepływem elektronów. Przed podjęciem dalszych
działań należy wyprodukować najpierw cienką warstwę izolacyjną oddzielającą
kanał od bramki. Pierwszą metodą jest wytworzenie izolującej warstwy dwutlenku
krzemu – w identyczny, termiczny sposób jak opisaliśmy to wcześniej. Przy
produkcji nowoczesnych procesorów coraz częściej korzysta się jednak z
technologii epitaksyjnych. Tutaj zamiast izolującej warstwy dwutlenku krzemu na
drodze epitaksji z fazy ciekłej lub gazowej nakłada się takie związki jak: SiOF,
ZrO3, Ta2O5 lub TiO2, które tworzą warstwę izolacyjną o lepszych niż SiO2
właściwościach dielektrycznych.
Do wytworzenia bramki, która wykonana jest zazwyczaj z przewodzącego
polimorficznego krzemu wykorzystuje się próżniową technologię naparowywania PVD
(Physical Vapour Deposition). Wykorzystywana w tym procesie aparatura próżniowa
nazywana napylarką, pozwala na naniesienie w niepokrytych fotorezystem miejscach
nanieść na wafel czysty polimorficzny krzem. Krzem odparowywany jest ze
specjalnego tygla, a dzięki dużej prędkości nanoszenia i jednoczesnemu
chłodzeniu wafla od spodu, szybko się go wychładza. Dlatego osadzany krzem,
nawet w najmniejszym stopniu nie krystalizuje i powstaje jego przewodząca
warstwa, która stanowi główny element konstrukcyjny bramki. Cały proces jest
bardzo dokładnie kontrolowany dzięki rezonansowym czujnikom kwarcowym
umieszczonym w rożnych częściach aparatury próżniowej. Czujniki te kontrolują
szybkość i grubość nanoszonej warstwy, dzięki czemu można nanieść bardzo cienką
warstwę krzemu o ściśle określonej, dosłownie kilkuatomowej grubości.

Do produkcji bramek i kolejnych warstw metalizacji wykorzystuje się napylarki
próżniowe. To dzięki nim można naparowywać cienkie warstwy, metalu, krzemu i
innych substancji chemicznych. Na zdjęciu napylarki PVD wykorzystywane w Intel
Fab 24.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
Po wytworzeniu rdzenia bramki, należy obowiązkowo osłonić go
przed wpływem pól elektrycznych pochodzących od innych pracujących tranzystorów.
Tranzystory planarne są bowiem tak małe, że nawet tak słabe pole elektryczne,
mogłoby doprowadzić do nieprawidłowego ich działania. Izolację taką wykonaną z
polimerów domieszkowanych niklem lub kobaltem nazywa się dystanserem (ang.
spacer). Jest ona również wytwarzana technologią próżniowo w napylarkach.
Ponieważ na powierzchni krzemu zachodzą podczas tego procesu reakcje chemiczne,
to metoda ta nazywana jest CVD (Chemical Vapour Deposition), a aparatura
próżniowa zamiast jednej komory z tyglem ma ich kilka lub nawet kilkanaście.

Wielotyglowe, wielokomorowe napylarki CVD wykorzystywane w AMD Fab 30.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
Na produkcji bramek kończy się proces wytwarzania
tranzystorów planarnych. Na końcu całą powierzchnię krzemowego wafla pokrywa się
próżniowo warstwą izolacyjną dwutlenku krzemu, w której następnie wycina się
otwory. Otwory te wypełnienia się metalem, który będzie pełnił funkcję
doprowadzających prąd elektryczny do tranzystorów elektrod.

Gotowy tranzystor planarny wraz z wolframowymi elektrodami doprowadzonymi do
obszarów źródła, drenu i bramki.
Źródło: AMD
Metalizacja
Ostatnim etapem produkcji tranzystorów planarnych jest doprowadzenie do każdego
elementu tranzystora, czyli bramki, źródła i drenu, wspomnianych wyżej elektrod
oraz połączenie gotowych tranzystorów z wyprowadzonymi elektrodami w bramki
logiczne i makrobloki wykonawcze, czyli ALU, jednostki FPU, SSE czy pamięć cache.
Proces produkcji metalowych elektrod oraz ścieżek kontaktowych nazywany jest
metalizacją. Ze względu na, że współczesne procesory są bardzo złożonymi
urządzeniami, warstw metalowych ścieżek (czyli mówiąc prościej „kabelków”)
spajających wszystkie bloki wykonawcze w jedna całość musi być kilka, gdyż
inaczej nie dałoby się uzyskać wszystkich niezbędnych połączeń. Zwykle takich
warstw metalizacji jest od pięciu do dziewięciu.

Historia rozwoju metalizacji.
Źródło: Intel
Jak już wspomniałem, pierwszym etapem jest wytworzenie
wolframowych elektrod doprowadzających prąd. Metal ten jest używany dlatego, że
pozwala na łatwe wprowadzanie i odprowadzanie z powierzchni krzemu sporych
ładunków elektrycznych (tworzy się tzw. złącze ostrzowe) i śladowe ilości
ładunku gromadzonego przy przełączaniu tranzystora. Warstwa wolframu tworzy
pierwszą warstwę metalizacji i jest nanoszona metodą PVD. Nadmiar metalu jest
zaś zeszlifowywany. Następne warstwy metalizacji wytwarza się już albo z
aluminium, albo z miedzi.

Wszystkie warstwy metalizacji procesora w całej okazałości. Te słabo widoczne na
samym dole elementy (kreseczki) to wolframowe elektrody doprowadzające prąd do
tranzystorów.
Źródło: AMD
Proces wykorzystujący aluminium jest prostszy w realizacji –
wymaga jedynie próżniowego naparowywania kolejnych warstw metalu i ich
utleniania. Tlenek aluminium jest izolatorem i łatwo jest odizolować
poszczególne „przewody” od siebie. Puste miejsca wypełnia się zaś dwutlenkiem
krzemu lub innym izolatorem, tak aby konstrukcja się „nie zawaliła”. Aluminium
nie pozwala jednak na pracę układu z wysokimi częstotliwościami, dlatego w
nowych procesorach stosuje się miedź.
Metalizacja miedziana nanoszona jest na mokro – galwanicznie z roztworu
siarczanu miedzi. Nadmiar miedzi usuwany jest mechaniczne przez polerowanie
wafli. Sama technologia metalizacji z wykorzystaniem miedzi jest skomplikowana,
gdyż każda warstwa wymaga od ośmiu do dziewięciu przebiegów litograficznych.
Problemy stwarza też dobór materiału izolującego miedziane ścieżki, tak aby
miedź się samoczynnie nie utleniała. Materiał taki musi mieć jednocześnie niską
stałą dielektryczną. Każdy producent stosuje tu swoje własne mieszaniny
substancji, których skład jest pilnie strzeżoną tajemnicą.
Wykonanie metalizacji, nałożenie na nią warstwy ochronnej i doprowadzenie
kontaktów (np. w technologii BGA, specjalnych kulek kontaktowych) kończy
produkcję układów scalonych. Jeszcze przed tymi zabiegami układy są wstępnie
testowane optycznie oraz po już doprowadzeniu kontaktów wykonywane są tzw.
elektryczne testy kontaktowe. Test ten wykrywa nie tylko wadliwe procesory, ale
również na jego podstawie określa się możliwości danego procesora i ustala z
jaką prędkością będzie pracował. Na tym kończą się zadania produkcyjne fabryki
półprzewodników.


Gotowe 45-nanometrowe procesory Core i7 (nazwa kodowa Nehalem) umieszczone na
wspólnym waflu.
Na dolnym zdjęciu widać wyraźnie metalizację dla poszczególnych bloków
wykonawczych.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
Gotowe procesory jeszcze w waflach wysyłane są następnie do
rozrzuconych po całym świecie fabryk. Tam wafle tnie się diamentowymi piłami na
poszczególne układy, uszkodzone chipy utylizuje, sprawne montuje na
procesorowych płytkach PCB, czyli innymi słowy w znanych wszystkim obudowach np.
AM2+ czy LGA 1366. W obudowach tych układy przechodzą ostateczne testy i
obudowane oraz sprawdzone procesory są już gotowe do wysyłki. Mogą zatem
spokojnie już trafić do sklepów oraz naszych komputerów.
Kontrola jakości
Omawiając poszczególne etapy produkcji pominęliśmy jeszcze jeden ważny aspekt, a
mianowicie kontrolę jakości. Jak już wspomniałem, zanim układ scalony będzie
gotowy musi przejść kilkaset cykli technologicznych. Aby nie wytwarzać bubli,
np. z powodu źle zestrojonych parametrów produkcji, na każdym etapie układy są
bardzo dokładnie kontrolowane. Stosuje się tutaj głownie nie niszczące metody
optyczne. Dlatego w cleanroomie znajdziemy mnóstwo optycznego sprzętu, takiego
jak mikroskopy, interferometry i spektrofotometry.

Optyczna kontrola jakości odbywająca się w cleanroomie bezpośrednio na linii
produkcyjnej AMD Fab 30.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
Jednak kontrola jakości obywa się nie tylko wewnątrz
cleanroomu. Równie ważne jest sprawdzanie wyselekcjonowanych partii procesorów
na różnych etapach produkcji metodami niszczącymi wymagającymi ingerencji w ich
strukturę.

Sprawdzanie jakości metalizacji w laboratoriach AMD Fab 30 za pomocą mikroskopu
elektronowego.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
Transport w półprzewodnikowej fabryce
Ostatnią istotną kwestią przy produkcji półprzewodników jest ich transport i
umieszczanie na poszczególnych stanowiskach produkcyjnych. Krzemowe wafle
transportuje się w specjalnych hermetycznych kasetach. Przez Intela kasety te
nazywane są kapsułami FOUP (Front Opening Unifed Pod). Jedna taka kaseta może
zabrać do 25 wafli i jest wstanie być obciążona wsadem do 11 kilogramów.



Hermetycznie zamykane kasety do transportu krzemowych wafli używane w AMD Fab
30.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski/MEMC Electronic Materials, Inc.
Każda kaseta oznaczona jest kodem kreskowym i identyfikatorem
RFID. Oznaczenia gwarantują, że automatyczny system transportu dostarczy je na
odpowiednie stanowisko w odpowiednim czasie i każdy znajdujący się w kasecie
wafel poddany zostanie takiemu procesowi jaki jest wymagany dla danego typu
układu scalonego na danym etapie jego wytwarzania. Kasety FOUP przewożone są
przez system automatycznego transportu na zamontowanej pod sufitem szynie.

Automatyczny system transportu (wózek podwieszony u góry) w Intel Fab 24. Dzięki
systemowi górnego transportu nie ma obawy, że ktoś może potrącić pojemnik z
przewożonymi waflami uszkadzając tym samym produkowane układy scalone.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski

W nowoczesnej fabryce półprzewodników nikt nie dotyka wafli rękoma. Są one
przenoszone specjalnymi automatycznymi chwytakami lub na poszczególne stanowiska
dostarczane są przez roboty, które wyjmują je z kaset transportowych. Zdjęcie z
AMD Fab 30.
Źródło: ©Sven Döring/AMD Saxony
Rurociągi
Na końcu artykułu spróbujmy sobie odpowiedzieć na jeszcze jedno pytanie. Jak
wygląda oglądana z zewnątrz fabryka półprzewodników? Otóż można się bardzo
zdziwić. W fabryce półprzewodników zużywa się ogromne ilości wody destylowanej,
ciekłych i gazowych chemikaliów, niezbędnych do produkcji układów scalonych.
Wszystkie one są przechowywane w specjalnych zbiornikach i dostarczane
kilometrami rur. Dalego fabryka półprzewodników wygląda z zewnątrz niczym
rafineria ropy naftowej. Zresztą popatrzcie sami.

Drezdeńska fabryka półprzewodników AMD Fab 30 z zewnątrz.
Źródło: zdjęcie własne, ©Marcin Bieńkowski
I to tyle. Dobiegliśmy do końca nasze krótkiej opowieści o
produkcji układów scalonych. Mam nadzieję, że pozwoliła ona choć w drobnej
części pokazać, jak bardzo zaawansowanymi technologicznie produktami są
dzisiejsze mikroprocesory i układy scalone.
Autor: Marcin Bieńkowski
Komentarze (35) |